Dr. rer. nat. Burghard Korneffel

Patentanmeldungen

Ich habe insgesamt 29 Erfindungen zum Patent angemeldet. 27 bei meiner Tätigkeit im Werk für Fernsehelektronik In Berlin und 2 bei meiner Tätigkeit im Ingenieurbüro TRACS Optische Computer Sensorik in Stuttgart.

27 Patente zu CCD-Sensoren

Im Werk für Fernsehelektronik arbeitete ich an der Entwicklung von CCD-Sensoren. Das sind Bildwandler in elektronischen Kameras. Die Weiterentwicklung der CCD-Sensoren führte zu den heutigen CMOS-Sensoren.

Ich hatte seinerzeit die Entwicklung der CCD-Zeile L 133 (1024 Sensoren) vorangetrieben. Es gelang mir, diesen Sensor in seinen Eigenschaften besser zu machen als den Vergleichstyp CCD 133 von Fairchild. Die spektrale Empfindlichkeit reichte weit ins Ultraviolette hinein, was seinerzeit bei CCD-Sensoren eine Sensation war. Das Grundsatzpatent zu dieser Zeile stammt von mir. Diese Patent wurde vom zuständigen Minister 1985 besonders gewürdigt. Für die gesamte DDR wurden 1985 nur 8 Patente derart ausgezeichnet.

1984 meldete ich den “Stapelsensor” (Farbselektion durch Ausnutzung der internen spektralen Absorption von Silizium) zum Patent an. Danach realisierte ich mit einem Team den Prototyp einer derartigen Farb-CCD-Zeile. Gleichzeitig setzte ich neue, von mir erfundene CCD-Register ein, welche bei vorgegebener technologischer Toleranz ein wesentlich kleineres Raster erlaubten. Der Prototyp erreichte im Test die erwartete Farbselektion. Innerbetrieblich erregte dieses Ergebnis großes Aufsehen, dieser CCD-Sensor war eine Weltneuheit. Der im DDR- System verankerte Betrieb hatte trotz gutem Willen keine echte Chance, aus diesem Produkt etwas zu machen.

2 Patente zu Geschwindigkeits- und Wegsensoren

Das Patent DE 44 44 661 ist ein sogenanntes Grundsatzpatent. Es beschreibt ein grundsätzlich neues Verfahren, optisch berührungslos die Geschwindigkeit und den zurückgelegten Weg zu messen. Es werden pro Sekunde bis zu 10.000 Werte für Geschwindigkeit und Weg ermittelt.

Das Patent DE 196 50 177 baut auf der Erfindung DE 44 44 661 auf und gestattet die Messung auf konturlosen Oberflächen über die Erzeugung eines Interferenzmusters mittels Laserstrahlung.

 

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